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抗干扰介质损耗测试仪测试时数据不合理是什么原因呢

更新时间:2021-11-25   点击次数:849次
  抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗和电容器容量的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗。具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间(在国内同类产品中速度快)体积小、重量轻等特点。
 
  抗干扰介质损耗测试仪测量介电损耗的目的是确定电气设备的绝缘状态。测量介电损耗因子是预防性测试中的一项。由于电气设备的介电损耗因数太大,因此在交流电压的作用下,设备的绝缘将以热的形式损失。产生的热量会增加电气设备绝缘的温度,使绝缘老化,甚至引起绝缘热击穿。绝缘容量的降低直接反映为介电损耗因子的增加。此外,可以分析绝缘劣化的原因,例如:绝缘潮湿,绝缘油污染,老化劣化等。因此,必须在工厂测试期间进行这种测试。在测量介电损耗时,还可以获得样品的电容。电容的明显变化反映了多个电容器中一个或多个电容器的短路或开路。
 
  如果使用中出现测试数据明显不合理,请从以下方面查找原因:
 
  1、发电机供电,抗干扰介质损耗测试仪发电机供电时输入频率不稳定,可采用定频50Hz模式工作。
 
  2、测试线,由于长期使用,易造成测试线隐性断路,或芯线和屏蔽短路,或插头接触不良,用户应经常维护测试线。
 
  3、接地接触不良,抗干扰介质损耗测试仪接地不良会引起仪器保护或数据严重波动。应刮净接地点上的油漆和锈蚀,务必保证0电阻接地。
 
  4、空气湿度过大,空气湿度大使介损测量值异常增大且不稳定,必要时可加屏蔽环。因人为加屏蔽环改变了试品电场分布,此法有争议,可参照有关规程。
 
  5、搭钩接触不良,现场测量使用搭钩连接试品时,搭钩务必与试品接触良好,否则接触点放电会引起数据严重波动!尤其是引流线氧化层太厚,或风吹线摆动,易造成接触不良。
 
  6、直接测量CVT或末端屏蔽法测量电磁式PT,直接测量CVT的下节耦合电容会出现负介损,应改用自激法。用末端屏蔽法测量电磁式PT时,由于受潮引起“T形网络干扰”出现负介损,吹干下面三裙瓷套和接线端子盘即可。也可改用常规法或末端加压法测量。
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